技術開発カンパニー(制御システム開発)
制御システム開発
計測・データベース技術を駆使し、遠隔制御・遠隔監視システム・材料評価・半導体特性評価などに強みを発揮。
お客さまの業務内容や現状の課題、ご要望を十分理解したうえで、業務レベルからコンサルティングし、最適化されたシステムを開発いたします。特に、計測技術・データベース技術、ネットワーク技術を融合し、医療系システム、遠隔監視・遠隔制御システムなどの開発を得意としています。また、半導体の自動評価システムやRF系の開発実績も豊富です。
- 材料評価システムの開発・販売
-
- ヤング率、剛性率、ポアソン比の温度依存性自動測定
- 各種設備の遠隔監視システムの開発
開発事例
-
遠隔設備診断ネットワークシステム
本システムは、遠隔地の電気設備の異常・劣化を現場で診断し、そのデータと状況をインターネット経由でデータセンターに送信します。データセンターでは、診断結果を解析し、電気設備の異常・劣化状態を 画面表示することが出来ます。また、診断結果データーは、検証結果データと共にデータベース化され、自動学習機能により、診断・解析精度を自ら高めていくことが出来ます。逆に、現場で十分な診断が出来ない場合は、データセンターに問い合わせることで、より精度の高い診断結果を入手することが出来ます。
-
駅の広告システム
- テレリンクメディア”駅site”
各駅に設置し、初電前までに、その日画像コンテンツをウェブ・ファイルサーバーからダウンロードします。万一の停電時にも自動的にリブートします。
- ウェブ・ファイルサーバ
各駅の”駅site”の要求でインターネットを経由して、その日その折々の画像コンテンツを配信します。また、コンテンツ・エディタから新しい画像やスケジュールを受取り更新します。
- コンテンツ・エディタ
社内に設置し、広告のデザインの制作や編集を行います。また、ネットワーク経由でデザインの審査をしていただきます。完成したコンテンツはウェブ・ファイル・サーバにアップロードします。
- テレリンクメディア”駅site”
-
CV測定/IV測定 自動計測制御プログラム
自動測定ソフトウエア- 測定/解析機能
-
- 測定パラメータ:容量バイアス特性
- 抽出パラメータ(*):酸化膜容量、酸化膜厚、フェルミ・ポテンシャル、基板不純物濃度、フラットバンド容量、フラットバンド電圧、表面電荷密度、しきい値電圧
- 解析パラメータ(*):不純物濃度プロファイル、理想C-V特性、界面準位
- データ表示:グラフ表示、ハードディスクへの保存、プリンタ印刷